檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "洪儒生".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="X光光電子能譜"
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本研究利用X光光電子能譜 (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS),分析經改質處理後之薄膜材料及元件化學結構及界面現象。 探討之元件及材料處理程序包括…